Benchmarking the Capabilities and Limitations of SAT Solvers in Defeating Obfuscation Schemes
Benchmarking the Capabilities and Limitations of SAT Solvers in Defeating Obfuscation Schemes
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对 SAT 求解器在击败混淆方案方面的能力和局限性进行基准测试
DOI：
10.1109/iolts.2018.8474189
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sasan, Avesta
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Roshanisefat, Shervin;Thirumala, Harshith K.;Gaj, Kris;Homayoun, Houman;Sasan, Avesta
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DOI：
10.1109/aspdac.2017.7858346
发表时间：
2017
期刊：
2017 22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
影响因子：
--
作者：
Muhammad Yasin;Bodhisatwa Mazumdar;O. Sinanoglu;Jeyavijayan Rajendran
通讯作者：
Muhammad Yasin;Bodhisatwa Mazumdar;O. Sinanoglu;Jeyavijayan Rajendran
SRCLock：用于保护硬件的抗 SAT 循环逻辑锁定
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
Proceedings of the 2018 on Great Lakes Symposium on VLSI
影响因子：
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作者：
Roshanisefat, Shervin;Mardani Kmali, Hadi;Sasan, Avesta
通讯作者：
Sasan, Avesta
使用阈值电压控制的数字 IP 保护
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
IEEE International Symposium on Quality Electronic Design
影响因子：
--
作者：
Joseph Davis;Niranjan S. Kulkarni;Jinghua Yang;A. Dengi;S. Vrudhula
通讯作者：
S. Vrudhula
LUT-Lock：一种新颖的基于 LUT 的逻辑混淆，用于 FPGA 比特流和 ASIC 硬件保护
DOI：
10.1109/isvlsi.2018.00080
发表时间：
2018
期刊：
2018 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI
影响因子：
--
作者：
Mardani Kamali, Hadi;Zamiri Azar, Kimia;Gaj, Kris;Homayoun, Houman;Sasan, Avesta
通讯作者：
Sasan, Avesta