Hamming Distance Computation in Unreliable Resistive Memory
Hamming Distance Computation in Unreliable Resistive Memory
复制标题
不可靠电阻存储器中的汉明距离计算
DOI:
10.1109/tcomm.2018.2840717
复制
发表时间:
2018
影响因子:
8.3
通讯作者:
Dolecek, Lara
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Chen, Zehui;Schoeny, Clayton;Dolecek, Lara
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
W. Yi;F. Perner;Muhammad Shakeel Qureshi;H. Abdalla;M. Pickett;J. Yang;Min;G. Medeiros;R. S. Williams
通讯作者:
R. S. Williams
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
Symposium on VLSI Technology
影响因子:
--
作者:
M. Wang;W. Luo;Y. L. Wang;L. M. Yang;Wenjie Zhu;P. Zhou;J. H. Yang;X. Gong;Y. Y. Lin;R. Huang;S. Song;Q. Zhou;H. Wu;J. Wu;M. Chi
通讯作者:
M. Chi
DOI:
--
发表时间:
2004
期刊:
Machine-mediated learning
影响因子:
--
作者:
M. Pazzani;Wendy Sarrett
通讯作者:
Wendy Sarrett