Observation of diffuse scattering in scanning helium microscopy.
Observation of diffuse scattering in scanning helium microscopy.
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扫描氦显微镜中漫散射的观察。
DOI：
10.1039/d2cp01951e
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Lambrick SM
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lambrick SM
在理解中性氦显微镜这一新兴领域的对比性质时，重要的是要确定是否存在一种原子表面散射分布，这种分布可以广泛地应用于一系列样品表面。在这里，我们展示了扫描氦显微镜（SHeM）在典型操作条件下获得的结果，这些结果来自一系列处于自然状态的表面，即没有任何专门的样品制备。我们观察到漫射散射，以表面法向为中心的近似余弦分布。“类余弦”分布明显不同于在氦原子散射实验中观察到的那些精心准备的、原子原始的表面的分布。了解SHeM实验中典型的散射分布为解释图像中的地形对比度提供了基础，也为比较更多的外来对比度机制提供了参考。
In understanding the nature of contrast in the emerging field of neutral helium microscopy, it is important to identify if there is an atom–surface scattering distribution that can be expected to apply broadly across a range of sample surfaces. Here we present results acquired in a scanning helium microscope (SHeM) under typical operating conditions, from a range of surfaces in their native state, i.e. without any specialist sample preparation. We observe diffuse scattering, with an approximately cosine distribution centred about the surface normal. The ‘cosine-like’ distribution is markedly different from those distributions observed from the well-prepared, atomically pristine, surfaces typically studied in helium atom scattering experiments. Knowledge of the typical scattering distribution in SHeM experiments provides a starting basis for interpretation of topographic contrast in images, as well as a reference against which more exotic contrast mechanisms can be compared.
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