Helium ion microscope - secondary ion mass spectrometry for geological materials.
Helium ion microscope - secondary ion mass spectrometry for geological materials.
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DOI：
10.3762/bjnano.11.133
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发表时间：
2020
影响因子：
3.1
通讯作者：
Harrison RJ
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ball MR;Taylor RJM;Einsle JF;Khanom F;Guillermier C;Harrison RJ
氦离子显微镜（HIM）是一种聚焦离子束仪器，具有前所未有的二次电子成像空间分辨率，但传统上缺乏微量分析能力。随着二次离子质谱仪（西姆斯）附件的增加，仪器的能力已经扩展到从Li到数百个原子质量单位的同位素微量分析，有效地打开了所有自然和地质系统的分析。然而，迄今为止，地球科学界尚未充分利用该仪器，这在很大程度上是由于对该仪器的定量能力缺乏透彻的了解。由于Li对经济地质学和绿色经济的重要性，以及用传统的微量分析技术观察Li的困难性，Li代表了探索仪器作为地质样品工具的理想元素。此外，Li代表同位素测量的“最佳情况”。在这里，我们提出了详细的样品制备，仪器灵敏度，理论和测量的检测限元素和同位素分析，以及实用性的地质样品分析的锂一起讨论的HIM-SIMS仪器的潜在地质用例。
The helium ion microscope (HIM) is a focussed ion beam instrument with unprecedented spatial resolution for secondary electron imaging but has traditionally lacked microanalytical capabilities. With the addition of the secondary ion mass spectrometry (SIMS) attachment, the capabilities of the instrument have expanded to microanalysis of isotopes from Li up to hundreds of atomic mass units, effectively opening up the analysis of all natural and geological systems. However, the instrument has thus far been underutilised by the geosciences community, due in no small part to a lack of a thorough understanding of the quantitative capabilities of the instrument. Li represents an ideal element for an exploration of the instrument as a tool for geological samples, due to its importance for economic geology and a green economy, and the difficult nature of observing Li with traditional microanalytical techniques. Also Li represents a “best-case” scenario for isotopic measurements. Here we present details of sample preparation, instrument sensitivity, theoretical, and measured detection limits for both elemental and isotopic analysis as well as practicalities for geological sample analyses of Li alongside a discussion of potential geological use cases of the HIM–SIMS instrument.
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影响因子：
20.4
作者：
Martin, Gunther;Rentsch, Lars;Bertau, Martin
通讯作者：
Bertau, Martin
DOI：
10.1007/978-3-319-41990-9_5
发表时间：
2016-01-01
期刊：
HELIUM ION MICROSCOPY
影响因子：
--
作者：
Petrov, Yuri V.;Vyvenko, Oleg F.
通讯作者：
Vyvenko, Oleg F.
影响因子：
4.6
作者：
Joens, Matthew S.;Chuong Huynh;Kasuboski, James M.;Ferranti, David;Sigal, Yury J.;Zeitvogel, Fabian;Obst, Martin;Burkhardt, Claus J.;Curran, Kevin P.;Chalasani, Sreekanth H.;Stern, Lewis A.;Goetze, Bernhard;Fitzpatrick, James A. J.
通讯作者：
Fitzpatrick, James A. J.
影响因子：
3.8
作者：
Jochum, Klaus Peter;Weis, Ulrike;Enzweiler, Jacinta
通讯作者：
Enzweiler, Jacinta
影响因子：
3.5
作者：
Wirtz, T.;Philipp, P.;Eswara, S.
通讯作者：
Eswara, S.