Dual-Port Reflectometry Technique: Charge identification in nanoscaled single-electron transistors.
Dual-Port Reflectometry Technique: Charge identification in nanoscaled single-electron transistors.
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双端口反射技术：纳米级单电子晶体管中的电荷识别。
DOI：
10.1109/mnano.2015.2409411
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发表时间：
2015
影响因子：
1.6
通讯作者：
Sanquer, Marc
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Orlov, Alexei O.;Fay, Patrick;Snider, Gregory L.;Jehl, Xavier;Barraud, Sylvain;Sanquer, Marc
射频反射仪（RFR）是一种通过观察反射波形来表征传输线特性的技术。如今，它被广泛应用于各种应用中，从检测电缆中的故障电线和埋在地下的物体到土壤湿度探测器和测量血液的介电特性。最近，这种技术的一个重要应用，它需要一个非常小的量的应用功率，被开发用于表征电子纳米结构。在该实施方式中，微波射频（RF）信号被发送到耦合到待研究的样本的谐振器。如果在样本中，一些外部参数的变化（例如，栅极电压）导致谐振器的有源[图1（a）]或无功（通常为电容性）负载发生变化，自谐振就会受到影响，从而导致反射信号的幅度[图2（a）]和相位发生变化。如果实现了阻抗匹配条件，则样本参数的修改（例如，其电阻的增加）将导致反射系数的非常显著的变化。在这里，我们讨论了RFR技术在纳米器件上的两个重要应用。
Radio-frequency reflectometry (RFR) is a technique that was developed to characterize the properties of transmission lines by observing reflected waveforms. Today, it is widely used in a variety of applications, ranging from the detection of faulty wires in cables and objects buried in the ground to soil moisture detectors and the measurement of dielectric properties of blood. Recently, one important application of this technique, which requires a very small amount of applied power, was developed for the characterization of electronic nanostructures. In this implementation, a microwave radio-frequency (RF) signal is sent to a resonator coupled to the specimen to be studied. If in a specimen the change of some external parameter (e.g., gate voltage) leads to a change of an active [Figure 1(a)] or a reactive (typically, capacitive) load to the resonator, the self-resonance is affected, resulting in a change of magnitude [Figure 2(a)] and phase of the reflected signal. If an impedance matching condition is achieved, the modification of the specimen parameter (e.g., the increase of its resistance) will lead to a very significant change in the reflection coefficient. Here, we discuss two important applications of the RFR technique on nanoscale devices.
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