Random Checkpoint Models for Multiple Modular Systems with Increasing Error Rates
Random Checkpoint Models for Multiple Modular Systems with Increasing Error Rates
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错误率不断增加的多个模块化系统的随机检查点模型
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kenichiro Naruse
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshio Nakagawa;Kodo Ito;中村正治;菊池孝美;菊池孝美;中村正治;Syouji Nakamura;Syouji Nakamura;Ding-Zhou;Won Young;Kodo Ito;Syouji Nakamura;Xu-Feng;Cun-Hua Qian;Kenichiro Naruse
用于评估 NANO 架构可靠性权衡的工具和技术
DOI：
10.1007/1-4020-8068-9_6
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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作者：
D. Bhaduri;S. Shukla
通讯作者：
S. Shukla
存在缺陷和故障的纳米计算：一项调查
DOI：
10.1007/1-4020-8068-9_2
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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作者：
P. Graham;M. Gokhale
通讯作者：
M. Gokhale
欧洲的设计自动化和测试 - DATE99
DOI：
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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作者：
D. Borrione;R. Ernst
通讯作者：
R. Ernst