Auger electron spectroscopy of dentin: elemental quantification and the effects of electron and ion bombardment.
Auger electron spectroscopy of dentin: elemental quantification and the effects of electron and ion bombardment.
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牙本质俄歇电子能谱：元素定量以及电子和离子轰击的影响。
DOI：
10.1016/0109-5641(93)90075-2
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发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Gutshall,PL
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Miller,RG;Bowles,CQ;Eick,JD;Gutshall,PL
本研究使用俄歇电子能谱来量化各种牙本质表面的元素组成。这些表面包括通过磨损产生的“涂抹层”，以及通过在真空和空气中断裂制备的表面。从牙本质两种主要成分羟基磷灰石和胶原蛋白的标准样品中获得的光谱有助于定量。找到了无需导电涂层即可分析样品的实验条件。测量了牙本质、羟基磷灰石和胶原蛋白的离子溅射蚀刻速率。在此处使用的条件下，观察到胶原蛋白的蚀刻速率约为羟基磷灰石的五倍。溅射表面的俄歇光谱表明离子束引起样品中胶原蛋白和牙本质的显着变化；羟基磷灰石没有发现显着变化。这项研究的结果表明，俄歇电子能谱可用于表征牙本质表面，离子溅射可引起牙本质表面成分的变化。
Auger electron spectroscopy was used in this investigation to quantify the elemental composition of various dentin surfaces. The surfaces included the “smeared layer,” produced by abrasion, as well as surfaces prepared by fracturing in vacuum and in air. Quantification was aided by spectra obtained from standard samples of the two main components of dentin, hydroxyapatite, and collagen. Experimental conditions were found whereby the samples could be analyzed without conductive coatings. Ion sputter etch rates were measured for dentin, hydroxyapatite, and collagen. Under the conditions used here, it was observed that collagen etched at a rate approximately five times greater than hydroxyapatite. Auger spectra of the sputtered surfaces indicated significant ion beam-induced sample changes in collagen and dentin; no significant changes were found with hydroxyapatite. The results of this investigation demonstrate that Auger electron spectroscopy can be used to characterize dentinal surfaces and that ion sputtering can cause changes in the surface composition of dentin.
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