A new aberration correction method for photoemission electron microscopy by means of moving focus
A new aberration correction method for photoemission electron microscopy by means of moving focus
复制标题
一种新型的移动焦点光电子显微镜像差校正方法
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
T.Koshikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Nishinaka;H.Yasufuku;林 俊一;安福 秀幸;H.Oikawa;T.Fujii;A.Kraus;T.Kan;Y.Takai;K.Nishinaka;F.-Z.Guo;T.Koshikawa
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SMART：带能量滤波器的像差校正 XPEEM/LEEM
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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作者：
R. Wichtendahl;R. Fink;H. Kuhlenbeck;D. Preikszas;H. Rose;R. Spehr;P. Hartel;W. Engel;R. Schlögl;H. Freund;A. Bradshaw;G. Lilienkamp;T. Schmidt;E. Bauer;G. Benner;E. Umbach
通讯作者：
E. Umbach
DOI：
10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023484
发表时间：
1997
期刊：
Journal of Electron Microscopy
影响因子：
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作者：
D. Preikszas;H. Rose
通讯作者：
H. Rose
Takai Y，Kimura Y，Ikuta T，Shimizu R，Satou Y，Isakozawa S和Ichihashi M：“实时离焦图像调制处理电子显微镜的开发。II.表面原子球差自由相位图像的动态观察”J
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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作者：
通讯作者：
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DOI：
10.1016/s0368-2048(97)00016-9
发表时间：
1997-03-01
影响因子：
1.9
作者：
Fink, R;Weiss, MR;Benner, G
通讯作者：
Benner, G
根据衍射光强度对声场进行断层扫描可视化。
影响因子：
1.9
作者：
O. Sasaki;Y. Anbe;S. Takagi
通讯作者：
S. Takagi