Development of Surface Hall Potentiometry to Characterize Semiconductor Films
Development of Surface Hall Potentiometry to Characterize Semiconductor Films
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开发表征半导体薄膜的表面霍尔电位法
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kenta Arima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kenji Hiwa;Ryoji Nakaoka;Mizuho Morita;Kenta Arima
通过扫描麦克斯韦应力显微镜表征硅纳米线的导电
影响因子：
4
作者：
Hideo Fujii;T. Matsukawa;S. Kanemaru;H. Yokoyama;J. Itoh
通讯作者：
J. Itoh
量子霍尔体系中边缘态散射中心的成像
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Woodside;C. Vale;P. McEuen;C. Kadow;K. Maranowski;A. Gossard
通讯作者：
A. Gossard
影响因子：
3.7
作者：
McCormick, KL;Woodside, MT;Harris, JS
通讯作者：
Harris, JS