Silent Error Corruption: The New Reliability and Test Challenge
Silent Error Corruption: The New Reliability and Test Challenge
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无声错误损坏：新的可靠性和测试挑战
DOI：
10.1109/lats58125.2023.10154487
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Singh, Adit D.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Singh, Adit D.
了解 Vmin 故障以改进时序裕度测试
DOI：
10.1109/itc50671.2022.00046
发表时间：
2022
期刊：
2022 IEEE International Test Conference (ITC
影响因子：
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作者：
Singh, Adit D.
通讯作者：
Singh, Adit D.
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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作者：
Poornachand Tadisetti;Kishore Kumar. Yadla;G. Deepak;Sharmila Nirojini
通讯作者：
Sharmila Nirojini
DPPM 减少方法和新的缺陷导向测试方法应用于先进 FinFET 技术
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
International Test Conference
影响因子：
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作者：
Will Howell;F. Hapke;Edward Brazil;S. Venkataraman;R. Datta;Andreas Glowatz;W. Redemund;J. Schmerberg;A. Fast;J. Rajski
通讯作者：
J. Rajski