Short Term Cell-flipping Technique for Mitigating SNM Degradation Due to NBTI
Short Term Cell-flipping Technique for Mitigating SNM Degradation Due to NBTI
复制标题
用于减轻 NBTI 导致的 SNM 退化的短期细胞翻转技术
DOI：
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发表时间：
2011
影响因子：
0.5
通讯作者：
國武勇次
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Arakawa;K.Sekiguchi;Y.Yamauchi;K.Chida;M.Yamada;H.Takahashi;D.Chiba;K.Kobayashi;T.Ono;國武勇次
负偏压和正偏压温度应力对 6T-SRAM 单元的影响
影响因子：
0.4
作者：
S. Drapatz;G. Georgakos;D. Schmitt
通讯作者：
D. Schmitt
DOI：
10.1145/1229175.1229176
发表时间：
2007-04-01
影响因子：
2.2
作者：
Zhao, Wei;Cao, Yu
通讯作者：
Cao, Yu
用于缓解 SRAM 单元中 NBTI 的信号概率控制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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作者：
Yuji Kunitake;Toshinori Sato;Hiroto Yasuura
通讯作者：
Hiroto Yasuura