Cross-sectional scanning tunneling microscopy of antiphase boundaries in epitaxially grown GaP layers on Si(001)
Cross-sectional scanning tunneling microscopy of antiphase boundaries in epitaxially grown GaP layers on Si(001)
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Si(001) 上外延生长的 GaP 层反相边界的横截面扫描隧道显微镜
DOI：
10.1116/1.4945992
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A. Lenz
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Prohl;H. Döscher;P. Kleinschmidt;T. Hannappel;A. Lenz
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通讯作者：
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通讯作者：
Volz, Kerstin