Investigation of local electrical properties of pentacene thin films by dual-probe atomic force microscopy
Investigation of local electrical properties of pentacene thin films by dual-probe atomic force microscopy
复制标题
双探针原子力显微镜研究并五苯薄膜的局部电学性质
DOI：
--
复制
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.Matsushige
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Hirose;E.Tsunemi;K.Kobayashi;H.Yamada;K.Matsushige
DOI：
10.1143/jjap.46.5636
发表时间：
2007-08-01
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS
影响因子：
--
作者：
Tsunemi, Eika;Satoh, Nobuo;Yamada, Hirofumi
通讯作者：
Yamada, Hirofumi
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
Jpn.J.Appl.Phys. 44
影响因子：
--
作者：
T.Matsuda;T.Nakamura;M.Ishikawa
通讯作者：
M.Ishikawa