Characterization of WID Delay Variability Using RO-array Test Structures
Characterization of WID Delay Variability Using RO-array Test Structures
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使用 RO 阵列测试结构表征 WID 延迟变化
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruhiko Terada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hidetoshi Onodera;Haruhiko Terada
版图对90nm CMOS工艺参数波动的影响
DOI：
10.1109/vlsic.2006.1705316
发表时间：
2006
期刊：
2006 Symposium on VLSI Circuits, 2006. Digest of Technical Papers.
影响因子：
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作者：
Liang;B. Nikolić
通讯作者：
B. Nikolić
延迟变化的测试结构
DOI：
10.1145/589411.589435
发表时间：
2002
期刊：
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影响因子：
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作者：
D. Boning;Joseph Panganiban;Karen Gonzalez;S. Nassif;C. McDowell;A. Gattiker;Frank Liu
通讯作者：
Frank Liu