The Fourier analysis of magnetic force microscopy imaging
The Fourier analysis of magnetic force microscopy imaging
复制标题
磁力显微镜成像的傅立叶分析
DOI：
10.1063/1.4754453
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发表时间：
2012-09
影响因子：
3.2
通讯作者：
Wei, Fulin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zheng, Fu;Liu, Liwang;Wei, Dan;Wei, Fulin
利用离散傅里叶变换方法，从磁力显微镜（MFM）图像的测量信号中计算了磁性薄膜样品表面附近的杂散场。结果表明，MFM图像只能反映样品表面的磁荷分布，不能唯一地确定薄膜的磁畴结构。实际上，样品表面的磁荷有两个来源：磁畴和畴壁。对于相同的MFM图像，不同的磁荷源将导致非常不同的磁畴结构。确定磁畴结构的一个正确方法是知道磁荷的来源，并使用杂散场的不同分量来重绘图像。
The stray field near the magnetic thin film sample surface has been calculated from the measured signal of the magnetic force microscopy (MFM) image by the method of discrete Fourier transform. It is found that the domain structure of the film cannot uniquely be determined by the MFM image because the MFM image just reflects the magnetic charges distribution at sample surface. In fact, the magnetic charges at sample surface have two sources: magnetic domain or domain wall. For the same MFM image, the different sources of the magnetic charges will result in very different domain structure. A proper way to determine the domain structure is to know the source of the magnetic charges and use the different components of the stray field to redraw the image.
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B. Vellekoop;L. Abelmann;S. Porthun;C. Lodder
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A. Perumal;Y. Takahashi;Tomoko Seki;K. Hono
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10.1007/b101202
发表时间：
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期刊：
--
影响因子：
--
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Yimei Zhu
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Yingguo Peng;J. Zhu;D. Laughlin