Measuring the impact of CCD gate width on the brighter-fatter effect
Measuring the impact of CCD gate width on the brighter-fatter effect
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测量 CCD 栅极宽度对亮胖效果的影响
DOI：
10.1117/12.2562730
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Weatherill D
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Weatherill D
在厚的、背照的ccd中，亮胖效应是一种众所周知的现象，通过高信号电平的相关电荷收集，导致观察到的点源尺寸的不对称增加。近年来，各种操作参数（如应用的反向偏置）对测量相关性大小的影响已经很好地建立起来。较少研究的是改变CCD的有效采集栅极宽度的后果，尽管在3相或4相器件中有几个值可用，但实验的可及性有限。在这个过程中，我们提出了收集门宽度实验，使用平场和点投影照明在厚背照明设备上，用于LSST项目。我们报告了与背面偏置电压相比，测量相关性与栅极宽度的变化大小，并发现栅极宽度构成了一个小但重要的贡献。根据这些结果，我们给出了评论器件优化时最小化相关电荷收集效应是理想的。
The brighter-fatter effect is a well known phenomenon in thick, back illuminated CCDs, causing asymmetric increase in the observed size of point sources via correlated charge collection with higher signal levels. Over recent years, the effect of various operating parameters (such as the back bias applied) on the size of measured correlations has been well established. Less well studied is the consequence of changing the effective collection gate width of the CCD, which is of limited accessibility to experiment though several values are available in 3 or 4 phase devices. In this proceeding we present collection gate width experiments using both flat field and spot projection illuminations on a thick back illuminated device as used for the LSST project. We report on the size of the variation of measured correlations with gate width as compared with backside bias voltage, and find that gate width constitutes a small but significant contribution. In light of these results, we give comment on device optimisation when minimising correlated charge collection effects is desired.
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