A Power Side-Channel Attack on Flash ADC
A Power Side-Channel Attack on Flash ADC
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对闪存 ADC 的电源侧通道攻击
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Savidis, I.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Chen, Z.;Savidis, I.
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DOI：
10.1109/tvlsi.2021.3109062
发表时间：
2021
期刊：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI
影响因子：
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作者：
Venugopal Rao, Vaibhav;Savidis, Ioannis
通讯作者：
Savidis, Ioannis
DOI：
10.1109/latw.2017.7906739
发表时间：
2017-03
期刊：
2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)
影响因子：
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作者：
Vaibhav Venugopal Rao;I. Savidis
通讯作者：
Vaibhav Venugopal Rao;I. Savidis
DOI：
10.1109/tcsii.2019.2901534
发表时间：
2020-01
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
影响因子：
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作者：
Takuji Miki;N. Miura;H. Sonoda;Kento Mizuta;M. Nagata
通讯作者：
Takuji Miki;N. Miura;H. Sonoda;Kento Mizuta;M. Nagata
基于网格的模拟电路属性混淆
DOI：
10.1109/iscas.2019.8702671
发表时间：
2019
期刊：
2019 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS
影响因子：
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作者：
Rao, Vaibhav Venugopal;Savidis, Ioannis
通讯作者：
Savidis, Ioannis
闪存ADC温度计转二进制编码器的一种新方法——气泡纠错电路
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
IEEE International Conference on Distributed Computing Systems
影响因子：
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作者：
Sandeep Kumar;M. Suman;K. L. Baishnab
通讯作者：
K. L. Baishnab