Absolute Calibration of Imaging Plate for Electron Spectrometer measuring GeV-class electrons
Absolute Calibration of Imaging Plate for Electron Spectrometer measuring GeV-class electrons
复制标题
测量GeV级电子的电子能谱仪成像板的绝对校准
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他14名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Nakanii; K. Kondo;他14名
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影响因子：
8.6
作者：
TAJIMA, T;DAWSON, JM
通讯作者：
DAWSON, JM
用于透射电子显微镜的 25 μm 像素尺寸成像板的检测量子效率
DOI：
10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023523
发表时间：
1997
期刊：
Journal of Electron Microscopy
影响因子：
--
作者：
A. Taniyama;D. Shindo;T. Oikawa
通讯作者：
T. Oikawa
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
Ionizing Radiation 28-2
影响因子：
--
作者：
T.Takahashi
通讯作者：
T.Takahashi
影响因子：
64.8
作者：
Faure, J;Glinec, Y;Malka, V
通讯作者：
Malka, V
影响因子：
64.8
作者：
Mangles, SPD;Murphy, CD;Krushelnick, K
通讯作者：
Krushelnick, K