Handling manufacturing and aging faults with software-based techniques in tiny embedded systems
Handling manufacturing and aging faults with software-based techniques in tiny embedded systems
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在微型嵌入式系统中使用基于软件的技术处理制造和老化故障
DOI：
10.1109/latw.2017.7906756
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Mario Schölzel
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Felix Mühlbauer;Lukas Schröder;Patryk Skoncej;Mario Schölzel
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基于软件的微型嵌入式系统内存修复
DOI：
10.1109/ets.2015.7138766
发表时间：
2015
期刊：
2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS)
影响因子：
--
作者：
Mario Schölzel;Patryk Skoncej
通讯作者：
Patryk Skoncej
基于软件的静态调度超标量数据路径的自我修复
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
Mario Scholzel
通讯作者：
Mario Scholzel
浅谈软件手段处理嵌入式存储器制造故障的可行性
DOI：
10.1109/ecmsm.2015.7208698
发表时间：
2015
期刊：
2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their Application to Mechatronics (ECMSM)
影响因子：
--
作者：
M. Schölzel;P. Skoncej;F. Vater
通讯作者：
F. Vater
基于软件的程序存储器修复的可行性
DOI：
10.1109/iolts.2016.7604699
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
影响因子：
--
作者：
Patryk Skoncej;Felix Mühlbauer;Felix Kubicek;Lukas Schröder;Mario Schölzel
通讯作者：
Mario Schölzel
针对特定应用嵌入式系统的一种新颖的基于软件的缺陷容限方法
DOI：
10.1109/iccd.2011.6081441
发表时间：
2011
期刊：
2011 IEEE 29th International Conference on Computer Design (ICCD)
影响因子：
--
作者：
Da Cheng;S. Gupta
通讯作者：
S. Gupta