Deep-Ultraviolet Thermoreflectance Thermal Imaging of GaN High Electron Mobility Transistors
Deep-Ultraviolet Thermoreflectance Thermal Imaging of GaN High Electron Mobility Transistors
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GaN 高电子迁移率晶体管的深紫外热反射热成像
DOI：
10.1109/itherm54085.2022.9899680
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Choi, Sukwon
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shoemaker, Daniel C.;Karim, Anwarul;Kendig, Dustin;Kim, Hyungtak;Choi, Sukwon
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DOI：
--
发表时间：
2018
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通讯作者：
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DOI：
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影响因子：
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发表时间：
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期刊：
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作者：
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通讯作者：
Sukwon Choi