Collapse of DNA under alternating electric fields.
Collapse of DNA under alternating electric fields.
复制标题
DNA 在交变电场下的塌陷。
DOI：
10.1103/physreve.92.012714
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Riehn,Robert
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhou,Chunda;Riehn,Robert
最近的研究表明，双链DNA在强电场的作用下会崩溃。在这里，我们深入研究了DNA在微通道中弱约束下的崩溃，作为缓冲强度，驱动频率，外加电场强度和分子大小的函数。我们发现DNA分子崩溃的临界电场（数十kV/m）强烈依赖于驱动频率（100-800 Hz）和分子大小（20-160 kbp），弱依赖于离子强度（8-60 mM）。我们认为，一个明显的拉伸在非常高的电场是一个人为的有限帧时间的视频显微镜。
Recent studies have shown that double-stranded DNA can collapse in the presence of a strong electric field. Here we provide an in-depth study of the collapse of DNA under weak confinement in microchannels as a function of buffer strength, driving frequency, applied electric-field strength, and molecule size. We find that the critical electric field at which DNA molecules collapse (tens of kV/m) is strongly dependent on driving frequency (100–800 Hz) and molecular size (20–160 kbp), and weakly dependent on the ionic strength (8–60 mM). We argue that an apparent stretching at very high electric fields is an artifact of the finite frame time of video microscopy.
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