Probing quantum devices with radio-frequency reflectometry
Probing quantum devices with radio-frequency reflectometry
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使用射频反射仪探测量子器件
DOI：
10.1063/5.0088229
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发表时间：
2023
影响因子：
15
通讯作者：
Vigneau F
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Vigneau F
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影响因子：
10.8
作者：
C. Volk;A. Chatterjee;Fabio Ansaloni;C. Marcus;F. Kuemmeth
通讯作者：
C. Volk;A. Chatterjee;Fabio Ansaloni;C. Marcus;F. Kuemmeth
CMOS 单电子存储单元的条件色散读出
影响因子：
4.6
作者：
S. Schaal;Sylvain Barraud;J. Morton;M. Gonzalez
通讯作者：
M. Gonzalez
影响因子：
16.6
作者：
Kroll JG;Uilhoorn W;van der Enden KL;de Jong D;Watanabe K;Taniguchi T;Goswami S;Cassidy MC;Kouwenhoven LP
通讯作者：
Kouwenhoven LP
DOI：
10.1103/physrevapplied.4.014018
发表时间：
2015-02
期刊：
arXiv: Mesoscale and Nanoscale Physics
影响因子：
--
作者：
J. Stehlík;Y. Liu;C. Quintana;C. Eichler;T. Hartke;J. Petta
通讯作者：
J. Stehlík;Y. Liu;C. Quintana;C. Eichler;T. Hartke;J. Petta
测量单电子晶体管中接近量子极限的量子噪声
影响因子：
19.6
作者：
W. Xue;Z. Ji;F. Pan;J. Stettenheim;M. Blencowe;A. Rimberg
通讯作者：
A. Rimberg