Rapid Pre-Characterization of Fine-Grained EM Side-Channel (In)Vulnerability of AES Modules
Rapid Pre-Characterization of Fine-Grained EM Side-Channel (In)Vulnerability of AES Modules
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AES 模块细粒度 EM 侧通道 (In) 漏洞的快速预表征
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yilmaz, Ali E.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Iyer, Vishnuvardhan V.;Yilmaz, Ali E.
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Iyer, Vishnuvardhan V.;Yilmaz, Ali E.
通讯作者：
Yilmaz, Ali E.