Threshold voltage shift and fommation of charge traps induced by light irradiation during the fabrication of organic light-emitting diodes
Threshold voltage shift and fommation of charge traps induced by light irradiation during the fabrication of organic light-emitting diodes
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有机发光二极管制造过程中光照射引起的阈值电压漂移和电荷陷阱的形成
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Ishii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Noguchi;N. Sato;Y. Tanaka;Y. Nakayama;H. Ishii
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影响因子：
3.2
作者：
Ito, E;Washizu, Y;Seki, K
通讯作者：
Seki, K
基于肖特基发射机制的有机电致发光器件电流-电压特性分析
影响因子：
1.5
作者：
M. Matsumura;Yukitoshi Jinde;Tomonori Akai Tomonori Akai;Takashi Kimura Takashi Kimura
通讯作者：
Takashi Kimura Takashi Kimura
《用位移电流测量法研究有机场效应晶体管的载流子注入特性》
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
Jpn. J. Appl. Phys. 42
影响因子：
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作者：
N.Abiko;S.Ogawa;Naofumi Abiko;Satoshi Ogawa;N.Abiko;S.Ogawa;T.Nishikawa;S.Ogawa;Koshi Okamura;石井 久夫;H.Ishii;S.Ogawa;Y.Hosoi;T.Nishikawa;K.Okamura;H.Ishii;H.Ishii;S.Ogawa;S.Ogawa;H.Ishii;石井 久夫;Koshi Okamura;石井 久夫;小川 賢;H.Ishii;K.Sugi;K.Okamura;H.Ishii;S.Ogawa;H.Ishii;K.Sugi;K.Okamura;K.Okamura;K.Sugi;小川 賢;石井久夫;岡村 康史;小川 賢;杉 啓司;H.Ishii;K.Sugi;S.Ogawa;S.Ogawa
通讯作者：
S.Ogawa
有机二极管中的光电效应
影响因子：
1.5
作者：
K. Iriyama;M. Shiraki;K. Tsuda;A. Okada;M. Sugi;S. Iizima;K. Kudo;Shoko Shiokawa;T. Moriizumi;T. Yasuda
通讯作者：
T. Yasuda
“蒸发 Alq_3 薄膜中建立的光可擦除巨大表面电势的表征”
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Thin Solid Films 464-65
影响因子：
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作者：
N.Abiko;S.Ogawa;Naofumi Abiko;Satoshi Ogawa;N.Abiko;S.Ogawa;T.Nishikawa;S.Ogawa;Koshi Okamura;石井 久夫;H.Ishii;S.Ogawa;Y.Hosoi;T.Nishikawa;K.Okamura;H.Ishii;H.Ishii;S.Ogawa;S.Ogawa;H.Ishii;石井 久夫;Koshi Okamura;石井 久夫;小川 賢;H.Ishii;K.Sugi
通讯作者：
K.Sugi