Degradation Analysis and Mitigation in FPGAs
Degradation Analysis and Mitigation in FPGAs
复制标题
FPGA 中的退化分析和缓解
DOI：
10.1109/fpl.2010.88
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Stott E
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Stott E
FPGA 是强大的平台，可用于研究与工艺扩展相关的迫在眉睫的挑战，例如变化和退化。它们的多功能性使我们能够收集经验数据并评估新颖的解决方案。我们对现代 FPGA 器件进行了加速寿命测试，并获得了影响器件老化过程的有用特征。我们还量化了基于利用备用逻辑和互连资源的三种降级缓解策略的潜在好处。面对未来工艺扩展的不确定性，这项工作有助于巩固可重构逻辑作为一项至关重要的技术的作用。
FPGAs are powerful platforms for investigating impending challenges associated with process scaling, such as variation and degradation. Their versatility allows us to gather empirical data and evaluate novel solutions. We carried out accelerated-life tests on modern FPGA devices and obtained a useful characterisation of the ageing processes that afflict them. We also quantified the potential benefits of three degradation mitigation strategies based on exploiting spare logic and interconnect resources. The work helps cement the role of reconfigurable logic as a vitally-important technology in the face of the uncertainties of future process scaling.
缺陷：FPGA 寿命意识
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
S. Srinivasan;P. Mangalagiri;Yuan Xie;N. Vijaykrishnan;K. Sarpatwari
通讯作者：
K. Sarpatwari
一种基于转移概率的 FPGA 上任意电路延迟测量方法
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
International Conference on Field-Programmable Technology
影响因子：
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作者：
Justin S. J. Wong;N. P. Sedcole;P. Cheung
通讯作者：
P. Cheung