Quantifying Rowhammer Vulnerability for DRAM Security
Quantifying Rowhammer Vulnerability for DRAM Security
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量化 DRAM 安全性的 Rowhammer 漏洞
DOI：
10.1109/dac18074.2021.9586119
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Jin, Yier
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jiang, Yichen;Zhu, Huifeng;Sullivan, Dean;Guo, Xiaolong;Zhang, Xuan;Jin, Yier
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DOI：
10.48550/arxiv.2306.16093
发表时间：
2023-06
期刊：
ArXiv
影响因子：
--
作者：
O. Mutlu
通讯作者：
O. Mutlu
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Yuan Xiao;Xiaokuan Zhang;Yinqian Zhang;R. Teodorescu
通讯作者：
Yuan Xiao;Xiaokuan Zhang;Yinqian Zhang;R. Teodorescu
DOI：
10.1145/2503210.2503257
发表时间：
2013-11
期刊：
2013 SC - International Conference for High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis (SC)
影响因子：
--
作者：
Vilas Sridharan;Jon Stearley;Nathan Debardeleben;S. Blanchard;S. Gurumurthi
通讯作者：
Vilas Sridharan;Jon Stearley;Nathan Debardeleben;S. Blanchard;S. Gurumurthi
通过统计设计方法进行 DRAM 良率分析和优化
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems Part 1: Regular Papers
影响因子：
--
作者：
Yan Li;Helmut Schneider;F. Schnabel;R. Thewes;D. Schmitt
通讯作者：
D. Schmitt
DDR3 组件中行锤击引起的故障的统计分布
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
Microelectronics and reliability
影响因子：
--
作者：
Kyungbae Park;Donghyuk Yun;S. Baeg
通讯作者：
S. Baeg