Geometric size dependence of spin-mixing conductance at Pt/YIG interface
Geometric size dependence of spin-mixing conductance at Pt/YIG interface
复制标题
Pt/YIG 界面自旋混合电导的几何尺寸依赖性
DOI：
10.1063/5.0049369
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发表时间：
2021-05
影响因子：
4
通讯作者：
Jiang Y.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Liu Q. B.;Meng K. K.;Zheng S. Q.;Miao J.;Xu X. G.;Jiang Y.
自旋混合电导（SMC）是铁磁绝缘体基自旋电子学器件的一个重要参数。在这里，我们研究的影响，在铂（Pt）/钇铁石榴石（YIG）薄膜的局部自旋输运性质的设备边界通过减少横向尺寸的设备。在室温下，随着YIG薄膜尺寸的限制，自旋霍尔磁电阻、吉尔伯特阻尼系数和有效自旋霍尔角都有明显的起伏。通过采用谐波和电流诱导的自旋扭矩铁磁共振测量，我们已经发现了一个可以忽略不计的波动的虚部的SMC和有效的磁化强度与不同的几何尺寸的设备。相反，在Pt/YIG界面处的SMC的真实的部分被刚性地改变。我们的研究结果表明，SMC显着依赖于从Ar+离子铣削的边界效应。
The spin-mixing conductance (SMC) is an essential parameter for ferromagnetic-insulators-based spintronics devices. Here, we study the influence of device boundary on local spin transport properties in platinum (Pt)/yttrium iron garnet (YIG) films by reducing the lateral size of the devices. An obvious fluctuation of spin Hall magnetoresistance, Gilbert damping coefficient, and effective spin Hall angle with restricting the size of YIG films has been found at room temperature. By employing both harmonic and current-induced spin-torque ferromagnetic resonance measurements, we have found a negligible fluctuation of both the imaginary part of SMC and effective magnetization with varying the geometric size of devices. In contrast, the real part of SMC at the Pt/YIG interface has been rigidly altered. Our results show that the SMC dramatically depends on the boundary effect from Ar+-ion milling.
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影响因子：
4
作者：
K. Uchida;Z. Qiu;T. Kikkawa;R. Iguchi;E. Saitoh
通讯作者：
K. Uchida;Z. Qiu;T. Kikkawa;R. Iguchi;E. Saitoh
影响因子：
8.6
作者：
Liu, Luqiao;Moriyama, Takahiro;Buhrman, R. A.
通讯作者：
Buhrman, R. A.
影响因子：
3.7
作者：
S. V'elez;A. Bedoya-Pinto;Wenjing Yan;L. Hueso;F. Casanova
通讯作者：
S. V'elez;A. Bedoya-Pinto;Wenjing Yan;L. Hueso;F. Casanova
影响因子：
8.6
作者：
Brataas, A;Nazarov, YV;Bauer, GEW
通讯作者：
Bauer, GEW
影响因子：
8.6
作者：
S. Vélez;V. Golovach;A. Bedoya-Pinto;M. Isasa;E. Sagasta;M. Abadia;C. Rogero;L. Hueso;F. Bergeret;F. Casanova
通讯作者：
S. Vélez;V. Golovach;A. Bedoya-Pinto;M. Isasa;E. Sagasta;M. Abadia;C. Rogero;L. Hueso;F. Bergeret;F. Casanova