Identification of lattice defects in Cu thin films by positron annihilation spectroscopy
Identification of lattice defects in Cu thin films by positron annihilation spectroscopy
复制标题
正电子湮没光谱识别铜薄膜中的晶格缺陷
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masataka Mizuno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Hosoya,...M. Arita(5);Y. Takahashi(6);Itsurou Shishido;H. Hosoya;Hideki Araki;M. Arita...Y. Takahashi(4);Hideki Araki;M. Arita;Masataka Mizuno
影响因子：
1.5
作者：
T. Fujikawa;T. Yoshikawa;T. Ohnishi;Toshiki Sato
通讯作者：
Toshiki Sato
研究%20of%20空位%20和%20空位-杂质%20pairs%20in%20Cu-0.5%20at.%20%%20Ge%20by%20意味着%20of%20正电子%20湮灭
DOI：
10.1007/bf00884271
发表时间：
1974
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Doyama;K. Kuribayashi;S. Nanao;S. Tanigawa
通讯作者：
S. Tanigawa
高压退火工艺在双镶嵌铜互连中的应用
DOI：
10.2320/matertrans.43.1605
发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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作者：
Onishi Takashi;T. Yoshikawa
通讯作者：
T. Yoshikawa