Mutation rates across budding yeast chromosome VI are correlated with replication timing.
Mutation rates across budding yeast chromosome VI are correlated with replication timing.
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DOI：
10.1093/gbe/evr054
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发表时间：
2011
影响因子：
3.3
通讯作者：
Murray AW
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lang GI;Murray AW
先前的实验研究表明，突变率在酵母基因组中是不均匀的。为了更精确地描述整个基因组的这种变异，我们测量了整合在染色体VI上43个不同位置的URA3基因的突变率。我们发现，突变率在单个染色体上变化6倍，这种变化与复制时间相关，我们提出了一个模型来解释这种变化，该模型依赖于复制过去受损DNA的两个过程的时间分离：无错误的DNA损伤耐受性和translesion合成。该模型得到以下观察结果的支持：消除跨损伤合成减少了这种变化。
Previous experimental studies suggest that the mutation rate is nonuniform across the yeast genome. To characterize this variation across the genome more precisely, we measured the mutation rate of the URA3 gene integrated at 43 different locations tiled across Chromosome VI. We show that mutation rate varies 6-fold across a single chromosome, that this variation is correlated with replication timing, and we propose a model to explain this variation that relies on the temporal separation of two processes for replicating past damaged DNA: error-free DNA damage tolerance and translesion synthesis. This model is supported by the observation that eliminating translesion synthesis decreases this variation.
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