XPS Studies of the SiO2 Substrates and Thermoelectric Thin Films of Sn/Sn+SnO2 under the Effects of the Different Thermal Treatments
XPS Studies of the SiO2 Substrates and Thermoelectric Thin Films of Sn/Sn+SnO2 under the Effects of the Different Thermal Treatments
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不同热处理作用下SiO2衬底和Sn/Sn SnO2热电薄膜的XPS研究
DOI：
10.3844/ajeassp.2021.25.50
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Lagle, Richard
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Drabo, Mebougna;Budak, Satilmis;Egarievwe, Stephen;Lagle, Richard
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发表时间：
2002
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通讯作者：
H. Onishi
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发表时间：
2019
期刊：
American Journal of Applied Sciences
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作者：
Mebougna L. Drabo;S. Budak
通讯作者：
S. Budak
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发表时间：
2011
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通讯作者：
C. Batista
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2008
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通讯作者：
Zihan Ding