The Noise Performance of Electron-Multiplying Charge-Coupled Devices at Soft X-Ray Energy Values
The Noise Performance of Electron-Multiplying Charge-Coupled Devices at Soft X-Ray Energy Values
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电子倍增电荷耦合器件在软 X 射线能量值下的噪声性能
DOI：
10.1109/ted.2012.2200488
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发表时间：
2012
影响因子：
3.1
通讯作者：
Tutt J
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Tutt J
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影响因子：
--
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通讯作者：
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通讯作者：
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