Materials Analysis Using Secondary Ion Mass Spectrometry: Challenges and Opportunities
Materials Analysis Using Secondary Ion Mass Spectrometry: Challenges and Opportunities
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使用二次离子质谱进行材料分析：挑战和机遇
DOI：
10.1017/s1431927617005876
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发表时间：
2017
影响因子：
2.8
通讯作者：
Walker, Amy V
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Walker, Amy V
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DOI：
10.1016/j.jasms.2005.06.005
发表时间：
2005-10-01
影响因子：
3.2
作者：
Touboul, D;Kollmer, F;Laprévote, O
通讯作者：
Laprévote, O
将非线性纳入成像 SIMS 数据的多变量分析
影响因子：
1.7
作者：
L. Gelb;Tammy M. Milillo;Amy V. Walker
通讯作者：
Amy V. Walker
Aun+ (n=1–7) 轰击下增强二次离子发射的研究
DOI：
10.1016/j.jasms.2005.01.024
发表时间：
2005
影响因子：
3.2
作者：
Gabriella Nagy;L. Gelb;Amy V. Walker
通讯作者：
Amy V. Walker
成像飞行时间 SIMS 数据的优化分析
影响因子：
1.7
作者：
L. Gelb;Tammy M. Millilo;A. Walker
通讯作者：
A. Walker
影响因子：
6.7
作者：
Kollmer, F
通讯作者：
Kollmer, F