Single LaB6 nanowire point electron source : synthesize, assembly and property measurements
Single LaB6 nanowire point electron source : synthesize, assembly and property measurements
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单 LaB6 纳米线点电子源：合成、组装和性能测量
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
L-C.Qin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H.Zhang;J.Tang;J.Ma;B.Wang;L-C.Qin
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用于干涉测量的低压点源显微镜
DOI：
10.1117/12.473498
发表时间：
2002
期刊：
SPIE Advanced Lithography
影响因子：
--
作者：
B. Frost;D. Joy;A. Thesen
通讯作者：
A. Thesen
DOI：
10.1116/1.1829063
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Žumer;V. Nemanič;B. Zajec
通讯作者：
B. Zajec
DOI：
10.1063/1.1412280
发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
--
作者：
B. Chalamala;R. Reuss;K. Dean
通讯作者：
K. Dean
铱场发射器上纳米突起的生长和控制
DOI：
10.1063/1.1364662
发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
--
作者：
B. Chalamala;R. Reuss;K. Dean
通讯作者：
K. Dean