Demonstration of UV-Induced Threshold Voltage Instabilities in Vertical GaN Nanowire Array-Based Transistors
Demonstration of UV-Induced Threshold Voltage Instabilities in Vertical GaN Nanowire Array-Based Transistors
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垂直 GaN 纳米线阵列晶体管中紫外线引起的阈值电压不稳定性的演示
DOI:
10.1109/ted.2019.2904851
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发表时间:
2019
影响因子:
3.1
通讯作者:
Enrico Zanoni
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
M. Ruzzarin;M. Meneghini;Carlo de Santi;Andrea Neviani;Feng Yu;Klaas Strempel;Muhammad Fahlesa Fatahilah;Bernd Witzigmann;Hutomo Suryo Wasisto;Andreas Waag;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni
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DOI:
--
发表时间:
2017
期刊:
Device Research Conference
影响因子:
--
作者:
Zongyang Hu;Wenshen Li;K. Nomoto;M. Zhu;Xiang Gao;M. Pilla;D. Jena;H. Xing
通讯作者:
H. Xing
影响因子:
1.7
作者:
B. Witzigmann;K. Frank;K. Strempel;M.F. Fatahilah;H.W. Schumacher;H.S. Wasisto;F. Römer;A. Waag
通讯作者:
A. Waag
影响因子:
1.7
作者:
Son, Dong-Hyeok;Jo, Young-Woo;Lee, Jung-Hee
通讯作者:
Lee, Jung-Hee
DOI:
--
发表时间:
2002
期刊:
60th DRC. Conference Digest Device Research Conference
影响因子:
--
作者:
I. Ben;Yee;S. Heikman;S. Denbaars;U. Mishra
通讯作者:
U. Mishra
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
Device Research Conference
影响因子:
--
作者:
Min;M. Pan;Xiang Gao;T. Palacios
通讯作者:
T. Palacios