Power-Aware Testing in the Era of IoT
Power-Aware Testing in the Era of IoT
复制标题
物联网时代的功耗感知测试
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shin Duckgyu;Onizawa Naoya;Gross Warren J.;Hanyu Takahiro;山本和諒，二本松秀樹，塩谷亮太，五島正裕，津邑公暁;酒井楓，夏井雅典，羽生貴弘;X. Wen
逻辑/时钟路径感知的高速扫描测试生成，以避免错误捕获失败并减少时钟拉伸
DOI：
10.1109/ats.2015.25
发表时间：
2015
期刊：
2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
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作者：
K. Asada;X. Wen;S. Holst;K. Miyase;S. Kajihara;M. A. Kochte;E. Schneider;H.-J. Wunderlich;J. Qian
通讯作者：
J. Qian
DOI：
10.1109/date.2008.4484642
发表时间：
2008-03
期刊：
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影响因子：
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作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
通讯作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen