X-Ray Interference Function Analyses and Thin Film Studies By in Situ Uhv Rheed
X-Ray Interference Function Analyses and Thin Film Studies By in Situ Uhv Rheed
批准号:
7203261
负责人:
Richard Vook
金额:
$11.77万
依托单位:
依托单位国家:
美国
项目类别:
Standard Grant
财政年份:
1973
资助国家:
美国
项目状态:
已结题
起止时间:
1973-01-01 至 1976-06-30
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会议论文
U.S.-China Cooperative Research (Materials Science): The Role and Formation of Thin Interfacial Layers in Sliding Electrical Contacts
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批准号:8714305
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项目类别:Standard Grant
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资助金额:$4.08万
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财政年份:1987
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负责人:Richard Vook
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依托单位:
Special Foreign Currency Travel Support For Participation In the U.S.-India Exchange of Scientists Programs
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批准号:8018017
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项目类别:Standard Grant
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资助金额:$0.21万
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财政年份:1980
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负责人:Richard Vook
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依托单位:
Research Equipment: Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive X-Ray Spectrometer
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批准号:7716679
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项目类别:Standard Grant
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资助金额:$3.28万
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财政年份:1977
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负责人:Richard Vook
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依托单位:
国内基金
海外基金
基于非分裂神经元系统的CRISPR interference作用机制及应用研究
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批准号:31771482
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项目类别:面上项目
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资助金额:65.0万元
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批准年份:2017
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负责人:姚骏
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依托单位: