U.S.-China Cooperative Research (Materials Science): The Role and Formation of Thin Interfacial Layers in Sliding Electrical Contacts

中美合作研究（材料科学）：滑动电接触中薄界面层的作用和形成

• 批准号: 8714305
• 负责人: Richard Vook
• 金额: $ 4.08万
• 依托单位: Syracuse University
• 依托单位国家: 美国
• 项目类别: Standard Grant
• 财政年份: 1987
• 资助国家: 美国
• 起止时间: 1987-11-01 至 1990-04-30
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8714305&HistoricalAwards=false
• 关键词: U.S.; China; Cooperative; Research; Materials

This award supports cooperative research between a U.S. scientist, Dr. Richard Vook, Syracuse University, and a Chinese scientist, Professor Zhang Jigao, Beijing Institute of Posts and Telecommunications, on "The Role and Formation of Thin Interfacial Layers in Sliding Electrical Contacts". This research will be carried out using facilities at both institutions. The goal of this joint research is to understand the formation and relevance of certain thin surface layers on electrical contact phenomena. By combining the expertise of Dr. Vook in surface science research and Professor Zhang in electrical contact research, it is anticipated that a productive multidisciplinary approach to the complex problems associated with sliding electrical contact phenomena will result.

该奖项支持美国科学家， 锡拉丘兹大学的理查德·沃克博士和一位中国科学家， 北京邮电学院张继高教授 薄界面的作用和形成 滑动电触点中的层”。 这项研究将是 使用这两个机构的设施进行。 这项联合研究的目标是了解形成和 某些薄表面层与电接触的相关性 现象。 通过结合Vook博士在表面科学方面的专业知识 研究和张教授在电接触方面的研究， 预计，一个富有成效的多学科方法， 与滑动电接触现象相关的复杂问题 将导致。