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Excess Noise in Ion-Implanted Resistors in Silicon

Excess Noise in Ion-Implanted Resistors in Silicon
硅中离子注入电阻器中的过量噪声
批准号：
7400738
负责人：
Hans Bilger
金额：
$3.57万
依托单位：
Oklahoma State University
依托单位国家：
美国
项目类别：
Standard Grant
财政年份：
1974
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1974-06-01 至 1976-11-30
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=7400738&HistoricalAwards=false
关键词：
ExcessNoiseIonImplantedResistors

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Continued U.S.-New Zealand Cooperative Effort on the Canterbury Ring Laser
  • 批准号：
    9108536
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $2.63万
  • 财政年份：
    1991
  • 负责人：
    Hans Bilger
  • 依托单位：
    Oklahoma State University
United States/New Zealand Cooperative Effort in Ringlaser Construction
  • 批准号：
    8900033
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $1.08万
  • 财政年份：
    1989
  • 负责人：
    Hans Bilger
  • 依托单位：
    Oklahoma State University
Collaborative Research: Low Frequency Excess Noise in Thin-Film Resistors and Simple Solid State Structures
  • 批准号：
    7602628
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $3.06万
  • 财政年份：
    1976
  • 负责人：
    Hans Bilger
  • 依托单位：
    Oklahoma State University
国内基金
海外基金
新一代超声速客机起降阶段增升装置气动噪声产生机理及控制方法研究(NOISE)
  • 批准号：
    12261131502
  • 项目类别：
    国际(地区)合作与交流项目
  • 资助金额：
    105.00万元
  • 批准年份：
    2022
  • 负责人：
    王勇
  • 依托单位：
    中国空气动力研究与发展中心