课题基金 / 基金详情

Fundamentals of Quantitative Sputtered Ion Mass Spectroscopy

Fundamentals of Quantitative Sputtered Ion Mass Spectroscopy
定量溅射离子质谱基础知识
批准号:
7710133
负责人:
David Wittry
金额:
$10.76万
依托单位国家:
美国
项目类别:
Continuing Grant
财政年份:
1977
资助国家:
美国
项目状态:
已结题
起止时间:
1977-12-01 至 1981-05-31

项目摘要

项目成果

David Wittry的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Deep Levels in Semiconductors by Microprobe X-Ray Fluorescence and X-Ray Excited Luminescence
  • 批准号:
    9123568
  • 项目类别:
    Continuing Grant
  • 资助金额:
    $22.42万
  • 财政年份:
    1992
  • 负责人:
    David Wittry
  • 依托单位:
The Ninth International Conference on X-Ray Optics and Microanalysis (Combined With the Seventh European Cong. on Elec. Microscopy) - Hague, Netherlands; Oct. 24-29, 1980
  • 批准号:
    8019676
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 资助金额:
    $0.09万
  • 财政年份:
    1980
  • 负责人:
    David Wittry
  • 依托单位:
海外基金