课题基金 / 基金详情

X-Ray Microanalysis and Scanning Electron Microscope Facility

X-Ray Microanalysis and Scanning Electron Microscope Facility
X 射线微量分析和扫描电子显微镜设备
批准号：
7801268
负责人：
Jeff Edington
金额：
$7.59万
依托单位：
University of Delaware
依托单位国家：
美国
项目类别：
Standard Grant
财政年份：
1978
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1978-05-15 至 1979-10-31
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=7801268&HistoricalAwards=false
关键词：
RayMicroanalysisScanningElectronMicroscope

项目摘要

项目成果

Jeff Edington的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Mechanisms of Solid Particle Erosion of Ductile Targets
  • 批准号：
    8107203
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $7.81万
  • 财政年份：
    1981
  • 负责人：
    Jeff Edington
  • 依托单位：
    University of Delaware
Acquisition of Scanning Transmission Electron Microscope Attachment and Accessories
  • 批准号：
    8005878
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $6.51万
  • 财政年份：
    1980
  • 负责人：
    Jeff Edington
  • 依托单位：
    University of Delaware
Mechanisms of Deposition and Erosion on Bare, Oxidized And Oxidizing Metals
  • 批准号：
    7805905
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $16.06万
  • 财政年份：
    1978
  • 负责人：
    Jeff Edington
  • 依托单位：
    University of Delaware
海外基金