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Study of Oxide Traps and Interface States in Silicon Microstructures

Study of Oxide Traps and Interface States in Silicon Microstructures
硅微结构中氧化物陷阱和界面态的研究
批准号：
8021114
负责人：
Chih-Tang Sah
金额：
$21.5万
依托单位：
University of Illinois at Urbana-Champaign
依托单位国家：
美国
项目类别：
Continuing Grant
财政年份：
1981
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1981-05-01 至 1984-10-31
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8021114&HistoricalAwards=false
关键词：
StudyOxideTrapsInterfaceStates

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Study of Oxide Traps and Interface States in Silicon Microstructures
Circuit Models of Semiconductor Devices
国内基金
海外基金
热敏性及光/热双重刺激响应性PNIPAm-grahene oxide复合物研究
  • 批准号：
    21106099
  • 项目类别：
    青年科学基金项目
  • 资助金额：
    25.0万元
  • 批准年份：
    2011
  • 负责人：
    范晓彬
  • 依托单位：
    天津大学
康滇地轴元古代变质热液IOCG矿床—拉拉Fe-Oxide-Cu-Au-Mo-REE矿床研究
  • 批准号：
    41072065
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    48.0万元
  • 批准年份：
    2010
  • 负责人：
    李泽琴
  • 依托单位：
    成都理工大学
新型手性N-Oxide金属化合物的合成与催化研究
  • 批准号：
    20872062
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    25.0万元
  • 批准年份：
    2008
  • 负责人：
    宋海斌
  • 依托单位：
    南开大学