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Non-Contact Pencil Probe for Advanced Manufacturing Inspection

Non-Contact Pencil Probe for Advanced Manufacturing Inspection
用于先进制造检测的非接触式笔式探头
批准号：
8801668
负责人：
Steven Case
金额：
$20.68万
依托单位：
CyberOptics Corporation
依托单位国家：
美国
项目类别：
Standard Grant
财政年份：
1988
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1988-08-15 至 1991-01-31
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8801668&HistoricalAwards=false
关键词：
NonContactPencilProbeAdvanced

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
该第二阶段小型企业奖用于开发高精度微型探针，用于检测复杂几何形状的制造部件。非接触式探头是基于激光技术，它应该允许快速和准确的检查各种类型的工件的特征，如内螺纹，肩，槽和孔。
英文摘要
This Phase II Small Business award is for continued research needed to develop a highly accurate, miniature probe designed to inspect manufactured parts of complex geometry. The non-contacting probe is based on laser technology and it should permit rapid and accurate inspection of a wide class of workpieces with features such as internal threads, shoulders, slots, and holes.
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会议论文
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  • 批准号：
    9055724
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $0.75万
  • 财政年份：
    1990
  • 负责人：
    Steven Case
  • 依托单位：
    Olathe South High School
Non-Contact Pencil Probe for Advanced Manufacturing Inspection
  • 批准号：
    8660933
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $3.94万
  • 财政年份：
    1987
  • 负责人：
    Steven Case
  • 依托单位：
    CyberOptics Corporation
海外基金