Acquisition of a 200keV Analytical Field Emission Transmission Electron Microscope

购置 200keV 分析场发射透射电子显微镜

基本信息

  • 批准号:
    9214449
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 70.47万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 财政年份:
    1992
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    1992-09-15 至 1994-02-28
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

High resolution transmission electron microscopy (TEM) is a technique critical to the characterization of nearly all solid state materials. The 200 kev Hitachi HF-2000 field emission, analytical transmission electron microcope to be installed at the Microelectronics Research Center at Georgia Institute of Technology is a cutting edge instrument that combines state-of-the-art high- resolution capabilities with excellent analytical capabilities. Multidisciplinary materials research has emerged as a high-priority area of emphasis of both research and education at Georgia Institute of Technology over the past decade. Lack of such an instrument however has been a major limiting factor in the breadth and depth of the current and planned materials research program. Provision of this modern, research-grade TEM will facilitate the conduct of major research studies on a broad range of materials systems and structures. It will be made available throughout the Institute and utilized at four different levels: (a) by long-term professional microscopists responsible for operation, training, and collaborative research with faculty PI's; (b) by long-term student microscopists requiring TEM as a central part of their research; (c) by short-term student users for educational as well as data acquisition purposes; and (d) as a service to provide essential research data to PI's and students.
高分辨率透射电子显微镜(TEM)是一种 一种对几乎所有固体的表征至关重要的技术 国家材料。 200 kev日立HF-2000场发射, 分析透射电子显微镜将安装在 格鲁吉亚理工学院微电子研究中心 是一种尖端的仪器,结合了最先进的高, 具有出色的分析能力。 多学科材料研究已成为一个高度优先事项 在格鲁吉亚研究和教育的重点领域 在过去的十年里,技术研究所。 缺乏这样的 然而,文书一直是一个主要的限制因素, 目前和计划的材料研究计划的深度。 提供这种现代化的研究级TEM将促进 对广泛的材料进行重大研究 系统和结构。 将在整个 在四个不同层面上研究和利用:(a)长期 负责操作、培训和 与学院PI的合作研究;(B)由长期学生 需要TEM作为其研究的核心部分的显微镜学家; (c)短期学生用户的教育以及数据 (d)作为一项服务,以提供必要的 向PI和学生提供研究数据。

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

Garth Freeman其他文献

Garth Freeman的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

相似海外基金

200keV, Energy Filtered, Intermediate-High Voltage Transmission Electron Microscope(IVEM)"
200keV、能量过滤、中高压透射电子显微镜(IVEM)"
  • 批准号:
    10642585
  • 财政年份:
    2023
  • 资助金额:
    $ 70.47万
  • 项目类别:
200keV Transmission Cryo-Electron Microscope
200keV透射冷冻电子显微镜
  • 批准号:
    389186200
  • 财政年份:
    2017
  • 资助金额:
    $ 70.47万
  • 项目类别:
    Major Research Instrumentation
リニアコライダーに用いる200keVスピン偏極電子源の開発
直线对撞机200keV自旋极化电子源研制
  • 批准号:
    02J05283
  • 财政年份:
    2002
  • 资助金额:
    $ 70.47万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
Acquisition of 200keV FEG Cryo-Electron Microscope
购置 200keV FEG 冷冻电子显微镜
  • 批准号:
    0002805
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 70.47万
  • 项目类别:
    Standard Grant
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了