Bestimmung der lagespezifischen und räumlich aufgelösten elektronischen Struktur um Punktdefekte in Kristallen aus dem Streufaktortensor für Röntgenstrahlung unter resonanter Anregung

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Das Vorhaben zielt auf die Ausarbeitung eines experimentellen Weges zur Charakterisierung der elektronischen Struktur um Punktdefekte in Kristallen. Besonderer Anspruch besteht darin, diese Information elementspezifisch, lagespezifisch und räumlich aufgelöst auch bei geringen Konzentrationen zu gewinnen. Dies soll experimentell aus der Bestimmung des atomaren Streufaktortensors für Röntgenstrahlung unter resonanter Anregung realisiert werden. Dazu sollte die Untersuchung ausgewählter Beugungsreflexe ausreichend sein. Zum Vergleich ist die Ermittlung der globalen Elektronendichte aus umfassenden Datensätzen mittels Einkristalldiffraktometrie an denselben Proben vorgesehen. Insgesamt sollen die experimentellen Ergebnisse ein Scharnier zur theoretischen Berechnung der spektral und ortsaufgelösten elektronischen Struktur und daraus abgeleiteter Vorhersagen mittels first-principles-Methoden bilden. Im Ergebnis der Arbeiten wird ein experimentelles Verfahren mit spezifischer Aussagekraft im Hinblick auf ein vorhersagebasiertes Design elektronischer Eigenschaften mittels Punktdefekten erwartet.