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Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen

Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
使用老化特征在线预测微电子电路故障
批准号:
187295793
负责人:
Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2011
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2010-12-31 至 2014-12-31

项目摘要

项目成果

Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz的其他基金

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中文摘要
翻译
我不知道该怎么做,也不知道该怎么做。从现在起,我们不能再继续下去了,也不能再继续下去了,我们将在网络上完成这项工作。由于德国的监测是在基础设施分析的基础上进行的,所以这项监测的数据是来自系统技术部门的。Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine ermöbliche Vereinfachong von strukturellen FehlerColomanzmaünahmenen(Z.B.Redundanzkonzepten)Selbst in sicheititskritischen Anwendungen,da gezielte Ma?nahmen vor Eintritt Alternsingter Fehlfunktionen ergriffen en können.高效的Lebensdauer Eines mikroelektronischen Produkts kann MIT Hilfe eines derartigen Online-监控来自Vielfachees erhöht den。
英文摘要
Mikroelektronische Schaltungen sind, wie auch mechanische Komponenten, lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt. Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit und die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen. Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen und Alterungsindikatoren in einer Infrastruktur analysiert, so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt werden kann. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können. Die effektive Lebensdauer eines mikroelektronischen Produkts kann mit Hilfe eines derartigen Online-Monitorings auf ein Vielfaches erhöht werden.
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1109/test.2014.7035360
发表时间: 2014-10
期刊: 2014 International Test Conference
影响因子: --
作者: [S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich]
通讯作者: S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich
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DOI: 10.1145/2647955
发表时间: 2014
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影响因子: --
作者: [N. Hatami, R. Baranowski, P. Prinetto, H.-J. Wunderlich]
通讯作者: H.-J. Wunderlich
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