Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
批准号:
187295793
负责人:
Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2011
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2010-12-31 至 2014-12-31
中文摘要
微电子Schaltungen sind,wie auch mechanische componenten,lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt.在这一过程中,韦尔登将通过互联网(通过Betriebs)实现更高的收入,并进一步提高生活质量。Mittels Monitoring韦尔登Betriebsbedingungen and Alterungsindikatoren in einer Struktur analysiert,so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt韦尔登. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen(z.B. Redundanzkonzepten)selbst in sicherheitskritischen Anwendungen,da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen韦尔登können.微电子产品的有效生命周期可以通过帮助一个韦尔登的在线访问来实现。
英文摘要
Mikroelektronische Schaltungen sind, wie auch mechanische Komponenten, lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt. Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit und die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen. Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen und Alterungsindikatoren in einer Infrastruktur analysiert, so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt werden kann. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können. Die effektive Lebensdauer eines mikroelektronischen Produkts kann mit Hilfe eines derartigen Online-Monitorings auf ein Vielfaches erhöht werden.
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1109/test.2014.7035360
发表时间:
2014-10
期刊:
2014 International Test Conference
影响因子:
--
作者:
[S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich]
通讯作者:
S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich
Multilevel Simulation of Nonfunctional Properties by Piecewise Evaluation
通过分段评估对非功能特性进行多级模拟
DOI:
10.1145/2647955
发表时间:
2014
期刊:
ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES)
影响因子:
--
作者:
[N. Hatami, R. Baranowski, P. Prinetto, H.-J. Wunderlich]
通讯作者:
H.-J. Wunderlich
Short channel OFETs for the application in circuitry
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批准号:195610266
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2011
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负责人:Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz
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依托单位: