Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
使用老化特征在线预测微电子电路故障
基本信息
- 批准号:187295793
- 负责人:
- 金额:--
- 依托单位:
- 依托单位国家:德国
- 项目类别:Research Grants
- 财政年份:2011
- 资助国家:德国
- 起止时间:2010-12-31 至 2014-12-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
Mikroelektronische Schaltungen sind, wie auch mechanische Komponenten, lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt. Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit und die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen. Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen und Alterungsindikatoren in einer Infrastruktur analysiert, so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt werden kann. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können. Die effektive Lebensdauer eines mikroelektronischen Produkts kann mit Hilfe eines derartigen Online-Monitorings auf ein Vielfaches erhöht werden.
微型电子元件的设计与制造,机械元件的设计与制造,机械元件的设计与制造。Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit and die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen。Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen和alterungsindickatoren in iner infrastructure analysis,因此,在德国,德国和德国,德国系统技术,德国和德国。Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können。有效的lebensdaues microelektronischen产品可以使用hilife eines在Vielfaches erhöht werden进行在线监测。
项目成果
期刊论文数量(2)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
FAST-BIST: Faster-than-at-Speed BIST targeting hidden delay defects
- DOI:10.1109/test.2014.7035360
- 发表时间:2014-10
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich
- 通讯作者:S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich
Multilevel Simulation of Nonfunctional Properties by Piecewise Evaluation
通过分段评估对非功能特性进行多级模拟
- DOI:10.1145/2647955
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:N. Hatami;R. Baranowski;P. Prinetto;H.-J. Wunderlich
- 通讯作者:H.-J. Wunderlich
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Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz其他文献
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Short channel OFETs for the application in circuitry
短沟道 OFET 在电路中的应用
- 批准号:
195610266 - 财政年份:2011
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants