Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
Online-Ausfallvorhersage mikroelektronischer Schaltungen mittels Alterungssignaturen
批准号:
187295793
负责人:
Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2011
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2010-12-31 至 2014-12-31
中文摘要
微型电子元件的设计与制造,机械元件的设计与制造,机械元件的设计与制造。Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit and die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen。Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen和alterungsindickatoren in iner infrastructure analysis,因此,在德国,德国和德国,德国系统技术,德国和德国。Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können。有效的lebensdaues microelektronischen产品可以使用hilife eines在Vielfaches erhöht werden进行在线监测。
英文摘要
Mikroelektronische Schaltungen sind, wie auch mechanische Komponenten, lebenszeitbegrenzenden Alterungsprozessen ausgesetzt. Um Ausfälle aufgrund der Alterung vorherzusagen, werden Verfahren entwickelt und untersucht, die online (während des Betriebs) die Leistungsfähigkeit und die noch zu erwartende Lebensdauer bestimmen. Mittels Monitoring werden Betriebsbedingungen und Alterungsindikatoren in einer Infrastruktur analysiert, so dass durch Früherkennung einem Ausfall durch systemtechnische Maßnahmen vorgebeugt werden kann. Neue Wartungskonzepte ermöglichen eine erhebliche Vereinfachung von strukturellen Fehlertoleranzmaßnahmen (z.B. Redundanzkonzepten) selbst in sicherheitskritischen Anwendungen, da gezielte Maßnahmen vor Eintritt altersbedingter Fehlfunktionen ergriffen werden können. Die effektive Lebensdauer eines mikroelektronischen Produkts kann mit Hilfe eines derartigen Online-Monitorings auf ein Vielfaches erhöht werden.
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1109/test.2014.7035360
发表时间:
2014-10
期刊:
2014 International Test Conference
影响因子:
--
作者:
[S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich]
通讯作者:
S. Hellebrand;T. Indlekofer;M. Kampmann;M. Kochte;Chang Liu;H. Wunderlich
Multilevel Simulation of Nonfunctional Properties by Piecewise Evaluation
通过分段评估对非功能特性进行多级模拟
DOI:
10.1145/2647955
发表时间:
2014
期刊:
ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES)
影响因子:
--
作者:
[N. Hatami, R. Baranowski, P. Prinetto, H.-J. Wunderlich]
通讯作者:
H.-J. Wunderlich
Short channel OFETs for the application in circuitry
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批准号:195610266
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2011
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负责人:Professor Dr.-Ing. Joachim N. Burghartz
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依托单位: