Sekundärionen Flugzeit Massenspektrometer

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„Das beantragte TOF SIMS Gerät (secondary-ion mass-spectrometer) dient der dreidimensionalen Kartierung von Element- und Isotopenverteilungen an mineralischen sowie organischen Oberflächen und an Partikeln. Im lateralen Bereich lassen sich Auflösungen von ca. 50 nm erzielen, im Tiefenprofil sogar im Bereich einzelner Atomlagen. Am IRS wird der Haupteinsatzzweck die Charakterisierung radioaktiv kontaminierter Proben sein, wie z. B. Umweltproben, Nahrungsmittel oder sogenannte heiße Partikel aus Unfällen in der Kerntechnik. Außerdem sollen Migrations- und Verteilungsverhalten von Radionukliden in mineralischen Phasen, aber auch in organischem Material und in Pflanzen bestimmt werden.“