Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS)
Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS)
二次离子质谱仪（SIMS）
批准号：
191224064
负责人：
金额：
$0.0万
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2010
资助国家：
德国
项目状态：
已结题
起止时间：
2009-12-31 至 2010-12-31
中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
No abstract available
期刊论文(2)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI：
10.1016/j.ssi.2014.02.005
发表时间：
2014
期刊：
Solid State Ionics
影响因子：
3.2
作者：
[P. Fielitz, G. Borchardt, S. Ganschow, R. Bertram, R.A. Jackson, H. Fritze, K.-D. Becker]
通讯作者：
K.-D. Becker
Optimization of wafer orientation and electrode materials for LGS high-temperature SAW sensors
LGS 高温 SAW 传感器的晶圆取向和电极材料优化
LGS 高温 SAW 传感器的晶圆取向和电极材料优化
DOI：
10.1109/ultsym.2012.0381
发表时间：
期刊：
2012 IEEE International Ultrasonics Symposium
影响因子：
--
作者：
[S. Sakharov, A. Zabelin, S. Kondratiev, D. Roshchupkin, D. Richter, H. Fritze, A. Shvetsov, S. Zhgoon]
通讯作者：
S. Zhgoon
海外基金