Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

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„An der Universität Siegen ist ein Transmissionsmikroskop (TEM) vorhanden, dass 1994 als Vorführgerät angeschafft worden war. Dieses Gerät ist inzwischen technisch veraltet und sehr reparaturanfällig, so dass das beantragte TEM als Ersatzgerät dienen soll. Der Schwerpunkt der Anforderungen liegt bei den Hauptnutzern, die am Institut für Werkstofftechnik angesiedelt sind, auf der Charakterisierung der Mikro-Struktur hauptsächlich metallischer Konstruktionswerkstoffe, der Identifikation der Schädigungsevolution als Folge anwendungsorientierter Belastung und der Untersuchung von Schichtsystemen. Weiterhin soll das neue Gerät in der Lage sein, den TEM-Untersuchungsbedarf aus der Festkörperphysik, der sich primär auf die Erfassung von Defektstrukturen in Grenzflächen bezieht, abzudecken und dem Institut für Bauchemie die notwendigen analytischen Möglichkeiten zu bieten, um zur Aufklärung von komplexen Baustoffstrukturen und zugrunde liegenden Prozessen beizutragen. Unter Berücksichtigung dieser Rahmenbedingungen wird die Geräteauswahl unter den Hauptgesichtspunkten Bedienerfreundlichkeit und Robustheit (Servicefreundlichkeit) vorgenommen. Nach aktueller Marktsituation ist das beantragte Gerät am besten geeignet. Aufgrund der rasanten Geräteentwicklung muss vor der endgültigen Bestellung der TEM-Gerätemarkt erneut kritisch betrachtet werden. Das neue TEM wird einen aktiven Beitrag zur Weiterentwicklung des werkstoffwissenschaftlichen Forschungsschwerpunktes der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität Siegen liefern und die interdisziplinäre Zusammenarbeit verbessern.“