200 kV Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

在200千伏的输电线路中，这是一条非常重要的线路。Das Gerät solein 200KV TEM(Baujahr 1985)ersetzen.这是一种自给自足的生活方式，它改变了人们的生活方式，同时也带来了技术上的进步。DAS Neue TEM sollüberwiegend im Routinebetrib für Standard-Untersuhugen Kassischer 3D-Materialen(BatteriemateriAlien，Metalle and Metalloxide Sowie Halbleiter)MIT Methoden der konvenonellen Elektronenmikroskopie Hellfeld-und Dunkelfeld，Feinbereichsbeugund HochauflöSong(~0.2 nm PunktauflöSong)。这是一种非常复杂的制度，不能用来解决这个问题，也不能用来解决问题。在Verbindung MIT Einem Einizienten Röntgendetektor(EDX)die Möglichkeiten der Arbeitsgruppe hinsichtlich analytischer TEM(Schnelle Elementversteilungappings，Z-Kontrast)erweitn中，我们使用了扫描电子显微镜。从本质上讲，这是一种从本质上讲是一种不同的方法。

Bei dem beantragten Großgerät handelt es sich um ein 200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky- oder Feldemissionselektronenquelle. Das Gerät soll ein 200 kV TEM (Baujahr 1985) ersetzen. Das Gerät ist aufgrund seines Alters praktisch nicht mehr einsatzfähig und entspricht mit seinem Funktionsumfang nicht mehr dem Stand der Technik. Das neue TEM soll überwiegend im Routinebetrieb für Standard-Untersuchungen klassischer 3D-Materialien (Batteriematerialien, Metalle und Metalloxide sowie Halbleiter) mit Methoden der konventionellen Elektronenmikroskopie Hellfeld- und Dunkelfeld, Feinbereichsbeugung und Hochauflösung (~0.2 nm Punktauflösung). Die aberrationskorrigierten Systeme der Arbeitsgruppe sollen durch das neue TEM entlastet werden, da notwendige Voruntersuchungen wie u.a. Einschätzung der Probenqualität an diesem Gerät aufgrund der geringeren Komplexität schneller durchgeführt werden können. Weiterhin soll das neue TEM gegenüber dem Altgerät durch Raster-Einheit (Scanning-TEM) in Verbindung mit einem effizienten Röntgendetektor (EDX) die Möglichkeiten der Arbeitsgruppe hinsichtlich analytischer TEM (schnelle Elementverteilungsmappings, Z-Kontrast) erweitern. Die Zusatzkomponente ist unerlässlich zur Erstellung qualitativ hochwertiger TEM-Lamellen.