200 kV Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop

Bei dem beantragten Großgerät handelt es sich um 200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky-or der Feldmissionselektronenquelle. Das Gerät soll ein 200 kV TEM（Baujahr 1985）ersetzen.这是一个很大的改变，它的实用性并不梅尔强，它的功能也不那么梅尔强。Das neue TEM soll überwiegend im sterilinebetrieb für Standard-Untersuchungen klassischer 3D-Materialien（Batteriematerialien，Metalle und Metalloxide sowie Halbleiter）mit Methoden der conventionellen Elektronenmikroskopie Hellfeld- und Dunkelfeld，Feinbereichsbeugung und Hochauflösung（~0.2 nm Punktauflösung）.劳动力市场的治理体系是通过新的TEM组织韦尔登来实现的，但并不像美国那样。Einschätzung der Probenqualität an diesem Gerät aufgrund der geringeren Komplexität schneller durchgeführt韦尔登können.此外，通过光栅-透射电子显微镜（扫描-透射电子显微镜）在透射电子显微镜分析工作组中使用一种有效的X射线衍射仪（EDX）来检验新的透射电子显微镜。Die Zusatzkomponente ist unerlässlich zur Erstellung qualitativ hochwertiger TEM-Lamellen.

Bei dem beantragten Großgerät handelt es sich um ein 200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky- oder Feldemissionselektronenquelle. Das Gerät soll ein 200 kV TEM (Baujahr 1985) ersetzen. Das Gerät ist aufgrund seines Alters praktisch nicht mehr einsatzfähig und entspricht mit seinem Funktionsumfang nicht mehr dem Stand der Technik. Das neue TEM soll überwiegend im Routinebetrieb für Standard-Untersuchungen klassischer 3D-Materialien (Batteriematerialien, Metalle und Metalloxide sowie Halbleiter) mit Methoden der konventionellen Elektronenmikroskopie Hellfeld- und Dunkelfeld, Feinbereichsbeugung und Hochauflösung (~0.2 nm Punktauflösung). Die aberrationskorrigierten Systeme der Arbeitsgruppe sollen durch das neue TEM entlastet werden, da notwendige Voruntersuchungen wie u.a. Einschätzung der Probenqualität an diesem Gerät aufgrund der geringeren Komplexität schneller durchgeführt werden können. Weiterhin soll das neue TEM gegenüber dem Altgerät durch Raster-Einheit (Scanning-TEM) in Verbindung mit einem effizienten Röntgendetektor (EDX) die Möglichkeiten der Arbeitsgruppe hinsichtlich analytischer TEM (schnelle Elementverteilungsmappings, Z-Kontrast) erweitern. Die Zusatzkomponente ist unerlässlich zur Erstellung qualitativ hochwertiger TEM-Lamellen.