Hochauflösendes analytisches Transmissionselektronenmikroskop

“在帕德博恩和比勒费尔德韦尔登大学，研究人员开始研究新材料的发展，他们从纳米结构或原子结构中发现了本征值。在原子结构、光学、电子和磁性的化学特性和光学、电子和磁性的特性中，分析透射电子显微镜（TEM）是Wahl的方法。帕德博恩大学致力于研究电磁场、电磁场和电磁场结构，通过对信号频谱的分析，对现代TEM实验进行理论上的改进和研究。在帕德博恩和比勒费尔德的前操作员Mikroskope确实存在，但没有光学、电子和磁性特征测量的分析方法，将进行新的分析，因此传输电子Mikroskop将被删除。这30名工人很快就来到了纳赫巴尔大学，他们在韦尔登大学附近的一个共同中心用一种先进的低温TEM技术完成了这项工作。'

'An den Universitäten Paderborn und Bielefeld werden anspruchsvolle Forschungsvorhaben betrieben, die die Entwicklung neuer Materialien beinhalten, welche ihre besonderen Eigenschaften aus ihrer Strukturierung auf der Nanometerskala oder der atomaren Konfiguration an Grenzflächen beziehen. Um die atomare Struktur, die chemische Zusammensetzung sowie die optischen, elektronischen und magnetischen Eigenschaften mit der erforderlichen Ortsauflösung untersuchen und optimieren zu können, ist analytische Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) die Methode der Wahl. Die Universität Paderborn verfügt über umfangreiche Kompetenz, Erfahrung und Infrastruktur, um moderne TEM experimentell zu betreiben und ergänzt diese im Bereich der Theorie durch Expertise bei der Kalkulation der spektroskopischen Signale. Da die vorhandenen Mikroskope in Paderborn und Bielefeld gänzlich veraltet sind und nicht die analytischen Methoden zur Messung von optischen, elektronischen und magnetischen Eigenschaften bieten, wird hier ein neues analytisches, hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop beantragt. Das beantragte Gerät soll fast 30 Arbeitsgruppen an den beiden Nachbaruniversitäten zugutekommen und daher - zusammen mit einem zeitgleich beantragten komplementären Cryo-TEM - in einer gemeinsamen zentralen Einrichtung beider Universitäten betrieben werden.'